3D scanning
精度と速度の向上
MEMSレーザー走査技術が機械視覚システムを強化する方法
高精度スキャンニング
MEMSミラーレーザー走査技術は、マイクロレベルの精度を提供し、機械視覚システムにおける3Dスキャンや欠陥検出に最適です。
高速スキャンニング
この技術は高速生産ラインでのリアルタイム検査を可能にし、生産を遅延させることなく、ミリ秒単位でタスクを完了します。
非接触測定
MEMSレーザー走査は非接触方式で、デリケートな物品を傷つけることなく、従来の方法で発生する摩擦や摩耗の問題を排除します。s.
高解像度および3Dイメージング
詳細な3Dデータを提供し、特に電子機器や自動車産業などで、正確な測定と検査を実現します。
効率的な欠陥検出
MEMSスキャンニングは欠陥を検出し、機械視覚と統合して自動化された欠陥識別を可能にし、品質管理を強化します.
低照度性能
レーザー走査は低照度環境でも優れた性能を発揮し、一定の照明に依存する光学システムとは異なります。
コンパクトな設計
MEMS技術は、より小型で効率的なシステムを実現し、限られたスペースでの使用に最適です。
多機能性
2Dおよび3Dイメージングをサポートし、表面スキャンや組立検証などの複雑なタスクを可能にします。
柔軟性とスケーラビリティ
MEMS技術はさまざまなスキャンニーズに対応でき、多様な検査タスクや生産環境に適しています。
まとめ
MEMSレーザー走査と機械視覚を組み合わせることで、精度、速度、欠陥検出能力が向上し、高精度な検査が高速生産環境で可能になります。